000 -CABECERA |
Campo de control de longitud fija |
00808nam a2200181 4500 |
007 - PHYSICAL DESCRIPTION FIXED FIELD--GENERAL INFORMAT |
Campo de control de longitud fija |
ta |
008 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
Campo de control de longitud fija |
160609b xxu||||| |||| 00| 0 eng d |
082 ## - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
Número de clasificación |
T621.381 |
Número de documento |
A473 |
100 40 - ENCABEZAMIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL |
Nombre de persona |
Álvarez Botero, Gérman Andrés |
9 (RLIN) |
12124 |
245 0# - MENCIÓN DE TÍTULO |
Título |
Mediciones de fotorreflectancia en monocristal de GaAs / |
Mención de responsabilidad, etc. |
Gérman Andrés Álvarez Botero |
260 4# - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC (PIE DE IMPRENTA) |
Lugar de publicación, distribución, etc. |
Armenia : |
Nombre del editor, distribuidor, etc. |
Universidad del Quindío, |
Fecha de publicación, distribución, etc. |
2004 |
300 4# - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
Extensión |
37 p. |
Otros detalles físicos |
il. |
502 ## - NOTA DE TESIS |
Entidad que otorga el grado |
Universidad del Quindío |
Fecha del grado |
2004 |
Facultad que otorga el grado |
Facultad de Ingeniería |
Programa que otorga el grado |
Programa de Ingeniería Electrónica |
520 ## - RESUMEN, ETC. |
Nota de sumario, etc. |
Se presenta el análisis de espectros de fotorreflectancia (F) para el rango de temperaturas entre 12K y 300K, de una muestra de GaAs no dopada tipo comercial. |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Electrónica |
9 (RLIN) |
684 |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Técnica de Caracterización |
9 (RLIN) |
12192 |
942 ## - ELEMENTOS KOHA |
Fuente de clasificación o esquema de ordenación en estanterías |
|
Koha tipo de item |
Tesis |