Álvarez Botero, Gérman Andrés

Mediciones de fotorreflectancia en monocristal de GaAs / Gérman Andrés Álvarez Botero - Armenia : Universidad del Quindío, 2004 - 37 p. il.



Se presenta el análisis de espectros de fotorreflectancia (F) para el rango de temperaturas entre 12K y 300K, de una muestra de GaAs no dopada tipo comercial.


Electrónica
Técnica de Caracterización

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