Mediciones de fotorreflectancia en monocristal de GaAs / Gérman Andrés Álvarez Botero
By: Álvarez Botero, Gérman Andrés
Material type: 
TextPublisher: Armenia : Universidad del Quindío, 2004Description: 37 p. ilSubject(s): Electrónica | Técnica de CaracterizaciónDDC classification: T621.381 Dissertation note: Universidad del Quindío 2004 Summary: Se presenta el análisis de espectros de fotorreflectancia (F) para el rango de temperaturas entre 12K y 300K, de una muestra de GaAs no dopada tipo comercial.
| Item type | Current location | Collection | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode |
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Tesis
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Laboratorio de Optoelectrónica TESIS - MONOGRAFIAS | Papel | T621.381 A473 (Browse shelf) | Ej. 1 | Available | L001083 |
Universidad del Quindío 2004 Facultad de Ingeniería Programa de Ingeniería Electrónica
Se presenta el análisis de espectros de fotorreflectancia (F) para el rango de temperaturas entre 12K y 300K, de una muestra de GaAs no dopada tipo comercial.
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