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Caracterización óptica de heteroestructuras semiconductoras mediante espectroscopias raman y de fotorreflectancia / Miguel Angel Meléndez Lira

By: Meléndez Lira, Miguel Angel

Material type: Text

TextPublisher: México: IPN, 1993Description: 200 pSubject(s): Trabajo de Investigación

| Técnicas de Caracterización

DDC classification: T537.622 Dissertation note: Tesis Doctorado Doctor en Ciencias en la especialidad de Física Centro de investigación y estudios avanzados del Instituto Politécnico Nacional 1993 Summary: Realizamos estudios de fotorreflectancia y espectroscopia Raman a temperatura ambiente a heteroestructuras semiconductoras crecidas mediante técnica de crecimiento epitaxial.

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Tesis	Laboratorio de Optoelectrónica TESIS - MONOGRAFIAS	Papel	T537.622 M527 (Browse shelf)	Ej. 1	Available		L001170

Tesis Doctorado
Doctor en Ciencias en la especialidad de Física Centro de investigación y estudios avanzados del Instituto Politécnico Nacional 1993 Departamento de Física

Realizamos estudios de fotorreflectancia y espectroscopia Raman a temperatura ambiente a heteroestructuras semiconductoras crecidas mediante técnica de crecimiento epitaxial.

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Caracterización óptica de heteroestructuras semiconductoras mediante espectroscopias raman y de fotorreflectancia / Miguel Angel Meléndez Lira

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