Universidad del Quindío catalog › Details for: Caracterización de niveles profundos en semiconductores mediante la técnica de DLTS /

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Caracterización de niveles profundos en semiconductores mediante la técnica de DLTS / Alejandro Avila García

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TextLanguage: Spanish Publisher: México : IPN, 1983Description: p.v. ilSubject(s): Ingeniería Electrica

DDC classification: T621.3 Dissertation note: Maestro en Ciencias en la especialidad Ingeniería Electrica Centro de investigación y de estudios avanzados del Instituto Politécnico Nacional 1983

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Tesis	Laboratorio de Optoelectrónica TESIS - MONOGRAFIAS	Papel	T621.3 A958 (Browse shelf)	Ej. 1	Available		L001147

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Maestro en Ciencias en la especialidad Ingeniería Electrica Centro de investigación y de estudios avanzados del Instituto Politécnico Nacional 1983

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